File:Naughty Science.jpg
Jump to navigation
Jump to search
Size of this preview: 692 × 600 pixels. Other resolutions: 277 × 240 pixels | 554 × 480 pixels | 1,020 × 884 pixels.
Original file (1,020 × 884 pixels, file size: 90 KB, MIME type: image/jpeg)
Captions
Captions
Add a one-line explanation of what this file represents
Summary
[edit]
| Description |
Eesti: See ootamatult tuttava kujuga mikroskoopiline struktuur on tegelikult üks kõige väikseim Eesti materjaliteadlaste tööriist, mis võimaldab siseneda nanomaailma ning näha nähtamatut. Nimelt kasutatakse seda haruldasest väärismetallist, plaatinast, valmistatud teravikku, et tunnetada materjali pinnal esinevaid vagusid, õõnsusi ja konarusi. Samal ajal on aga uuritav katsekeha positiivselt pingestatud, mis kutsub esile elektronide väljapaiskumise plaatinast pulga teravamast tipust. Elektronide sisenemine teraviku all olevasse katsekehasse võib aga olla kohati soodustatud või takistatud! Seega tuleb kogu huvipakkuv piirkond antud teravikuga ettevaatlikult, pinna iseärasusi arvestades, reahaaval üle skaneerida (kujutatud pildi paremal üleval nurgas). Mõõtes igas skaneeritud punktis teraviku otsast katsekehale üle läinud elektronide hulka (voolutugevust), on võimalik vastava tarkvara abil koostada värvikas pilt, mis iseloomustab materjali elektrilisi omadusi mikroskoopilisel skaalal. Antud meetodit nimetatakse juhtivus-aatomjõumikroskoopiaks, mis on üheks aatomjõumikroskoopia (AFM) alaliigiks.
AFM tööpõhimõte: https://www.youtube.com/watch?v=ksQT1W0cmHE Skaneeriva elektronmikroskoobiga tehtud pildil olev teravik on sünteesitud Tartu Ülikooli Füüsika Instituudis Kiletehnoloogia laboris, kasutades gaasilisest lähteainest plaatina sadestamiseks elektrone, mis on fokuseeritud kitsaks kimbuks ja mis liiguvad ~20%-se valgusekiirusega. Valmistatud mikroskoopilise teraviku omapärane kuju on seejuures tingitud valmistamisprotsessist, kus eriti terava otsa saamiseks on plaatina sadestus teostatud etapiliselt, alustades laiema aluse ja lõpetades terava tipuga.English: The microscopic structure on the SEM image consists enirely of platinum and is used in conductive atomic force microscopy expriments to scan across the surface of the studied substrate. This allows to obtain information about the variations of surface conductivity in a microscopic scale. Learn more about the principle of AFM in our short video lecture: https://www.youtube.com/watch?v=ksQT1W0cmHE English: Pt tip for conductive AFM |
| Date | |
| Source | Own work |
| Author | Maido Merisalu |
Licensing
[edit]
I, the copyright holder of this work, hereby publish it under the following license:
This file is licensed under the Creative Commons Attribution-Share Alike 4.0 International license.
- You are free:
- to share – to copy, distribute and transmit the work
- to remix – to adapt the work
- Under the following conditions:
- attribution – You must give appropriate credit, provide a link to the license, and indicate if changes were made. You may do so in any reasonable manner, but not in any way that suggests the licensor endorses you or your use.
- share alike – If you remix, transform, or build upon the material, you must distribute your contributions under the same or compatible license as the original.
 |
This image was uploaded as part of European Science Photo Competition 2015. |
File history
Click on a date/time to view the file as it appeared at that time.
| Date/Time | Thumbnail | Dimensions | User | Comment | |
|---|---|---|---|---|---|
| current | 09:20, 20 November 2015 | | 1,020 × 884 (90 KB) | Maido Merisalu (talk | contribs) | User created page with UploadWizard |
You cannot overwrite this file.
File usage on Commons
There are no pages that use this file.
